泰克 Tektronix DSA8200 数字采样示波器
DSA8200 数字采样示波器，执行通信信号分析、TDR/TDT/ 串行数 据网络分析及采集和测量重复的超信号
采集扩频时钟(SSC)信号
业内*支持多8 条输入通道的主机，提高了灵活性和吞吐量
四个颜色等级可变余辉波形数据库
支持100 多种自动测量的测量系统
完整的通信测量套件，包括OMA、SSC 曲线及其它类型 的测量
自动ITU/ANSI/IEEE 模板测试
内置SONET/SDH、FC、以太网和其它标准模板和测量 功能
可以从出厂时提供的文件中加载模板更新程序
模板余量测试，支持相邻频段产品的测试
采集模块采集模块
全面集成多速率光接口模块
高达80+ GHz 的80C10B 光接口模块
“ER Calibrated”测量在部分模块中提供
电接口模块，带宽高达70+ GHz，测得上升时间5 ps (10-90%)
速率灵活的时钟恢复模块
时钟恢复，支持SSC (扩频时钟)
抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析
测量并从随机抖动中隔离确定性数据相关抖动
测量垂直噪声，从随机噪声中隔离确定性数据相关噪声
非常准确的BER 和眼图轮廓估算，支持的DDPWS 和TWDP 测量
FFE/DFE 均衡，发射机均衡
支持对>30 dB 的通道进行通道仿真
线性滤波器，支持夹具反嵌和线性滤波
TDR (时域反射计)
高达50GHz的TDR带宽，15 ps的反射上升时间，12 ps 的入射上升时间
zui低的噪声，获得准确的可重复的TDR 测量结果- 在50 GHz 时为600 μVRMS
立校正采样器偏移，简便地反嵌夹具和探头
业内*能够支持zui多四对真正差分TDR 或电接口通道 的示波器，提高了系统通用性
S 参数测量
高达50 GHz 的差分、单端、混合模式测量功能；及插入 损耗、回波损耗、频域串扰测量功能
对千兆位信号路径和互连进行PCI Express、串行ATA、 Infiniband、千兆位以太网制造测试和标准*性测试， 包括眼图模板测试
直观、简便、准确，串行数据、千兆位数字设计和 信号完整性
使用命令行界面，准确地自动进行多端口S 参数测量
业内*秀的标准时基抖动性能，800 fsRMS
业内的时基抖动性能：在相位参考模式下<200 fsRMS*1
采集速率，高吞吐量
真正的差分远程采样器，可以放在DUT 附近，实现的 信号保真度
FrameScanTM 采集模式，支持眼图平均功能： - 隔离数据相关问题 - 考察低功率信号
MS Windows XP 操作系统
为三方软件提供连接能力
应用
设计/ 检验电信和数据通信元件和系统
ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH 制造测试或*性测试
真正差分TDR 测量
抖动、噪声和BER 分析
对串行数据应用进行阻抗检定和网络分析，包括S 参数
通道和眼图仿真，建立基于测量数据的SPICE 模型
*1 典型值，使用相位参考模块，适用一定的条件。如果没有这个模块， 抖动<800 psRMS (典型值)。
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