ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列
ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列
系统概述：
设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补
偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，测试结果准确可靠。
面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机立完成多种工作。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
系统特征：
● 测试范围广（19大类，27分类）
●升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
● 采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS
● 被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏
● 真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际值偏差很大）
● 系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障
● 二极管极性自动判别功能，无需人工操作
测试参数：
漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
击穿参数：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、 BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益参数：hFE、CTR、gFS、
导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)
混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
关断参数：VGSOFF
触发参数：IGT、VGT
保持参数：IH、IH+、IH-
锁定参数：IL、IL+、IL-
基础配置：
技术参数 ENJ2005-B型
主极电压 10mV-2000V
主极电流 100nA-50A
扩展电流 100A、200A、400A、500A
电压分辨率 1mV
电流分辨率 100nA
测试精度 0.5%+2LSB
测试速度 0.5mS/参数
德谊邦电子科技（苏州）有限公司提供ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列,包括半导体测试仪的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息。
